電子回路・半導体デバイスの問題
ある温度 に保ったシリコン結晶について考える。この温度で、不純物を添加していない(真性の)試料の導電率を測ると であった。
次に、同じ温度で、ドナーを濃度 、アクセプタを濃度 で一様に添加した(補償された)試料を考える。
ただし、次のように仮定する。
- 真性の試料での電子と正孔の移動度は 、 とする
- 電気素量は とする
- ドナーとアクセプタはすべてイオン化している
- 半導体は非縮退で、電子密度 と正孔密度 は、真性フェルミ準位 と真性キャリア密度 を用いて 、 と表せる( はフェルミ準位、 はボルツマン定数)
添加した試料の熱平衡状態でのフェルミ準位と真性フェルミ準位の差 は の何倍か。正確な値で求めよ。
この問題で使うもの
- 移動度と導電率(説明と入口の問題)
- 半導体のキャリア密度(説明と入口の問題)
- フェルミ準位とキャリア密度(説明と入口の問題)
この問題を解けるようになるまで(40 技能)
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右端(太枠)がこの問題で使う技能です。左へドラッグすると、さらに前の前提をさかのぼれます。技能を押すと、そこまでの道筋が光ります。
一覧で見る(前提が先)
- 力の種類とはたらき
- 静電気・放電と電子
- 帯電と電気量保存の法則
- クーロンの法則と電場・電気力線
- 電流の正体と電流の向き
- 真性半導体・n 型半導体・p 型半導体
- 分数のたし算・ひき算
- 小数の四則計算
- 正負の数の加法・減法
- 分数のかけ算・わり算
- 四則の混じった計算の順序
- 正負の数の乗除・累乗と四則混合
- 分配法則を使った計算のくふう
- 文字式の計算(同類項・分配法則)
- 乗法公式による展開
- 因数分解
- 3 次式までの展開と因数分解
- 約数の見つけ方
- 素因数分解と約数の個数
- 平方根の意味と根号の簡単化
- 根号の乗除と加減
- 分母の有理化
- 乗法公式・分配法則を使う根号の式の展開
- 根号を含む式の計算と分母の有理化
- 小数と分数のまじった計算
- 逆算(□ を求める)
- 1 次方程式の解き方
- 比例・反比例の式とグラフ
- 関数 の式と変域
- 平方完成と 2 次関数のグラフ
- 2次方程式の解の公式と判別式
- 半導体のキャリア密度
- オームの法則と抵抗率
- 抵抗の直列接続・並列接続
- オームの法則と合成抵抗
- 抵抗率
- 移動度と導電率
- 指数の拡張と指数関数
- 対数の定義と性質
- フェルミ準位とキャリア密度
ヒント
行き詰まったら、上から順に 1 つずつ開いてください。
ヒント 1
まず真性の試料の導電率から を求める。次に、添加した試料について電荷中性条件と質量作用の法則を連立して を求め、 と の関係式を使う。
ヒント 2
、、。 は と同じ程度なので とはできず、2 次方程式を解く。
ヒント 3
で、。 を で解く。
答えと解説
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解説を読む
真性キャリア密度 真性の試料では なので、導電率は
よって
は温度で決まる量なので、同じ温度の添加した試料でも は同じ値である。
添加した試料のキャリア密度 非縮退なので、与えられた式から質量作用の法則
が成り立つ。また、不純物がすべてイオン化しているので、電荷中性条件は
ここで と と同じ程度なので、 と近似することはできず、2 つの式を連立して解く必要がある。 を代入すると
の解は
を代入すると
(このとき で、 を満たす。)
フェルミ準位 より
よって は の 倍(フェルミ準位は真性フェルミ準位より だけ上)である。
別解
真性試料では なので、。
添加試料では電荷中性より 、すなわち 。また質量作用の法則 。
を代入して 。。。
より 。
検算: で となり一致。